测量显微镜 15J

仪器用途：

本仪器利用直角座标中测定长度，例如测定孔距，基面距离，刻线距离，刻线宽度，键槽宽度，狭缝宽度，通孔外圆直径等等。转动度盘测定角度，例如对刻度盘，样板、量规，钻孔模板及几何形状复杂的零件进行角度测量。用作观察显微镜，以比较法检查工作表面光洁度，鉴定冶金工业的矿石标本。检定印刷照相制版，检验纺织纤维等等。

技术参数：

1、目镜放大倍数：10X，焦距（mm）：25mm
2、物镜放大倍数：2.5X/0.08，焦距:43.40mm 10X/0.25，焦距：17.13mm
3、显微镜放大倍数：25X、100X
4、工作距离（mm）：58.84、7.81，
    视场直径（mm）:5.6、1.44

5、测量工作台读数装置主要规格：
   X—轴移动测量范围：50mm，Y—轴移动测量范围： 13mm
   测微器分度值：0.01mm，测量台转动范围：不限

   测量台刻度盘游标读数示值： 6’
5、测量精度：
   仪器示值误差±（5+L/15）微米
   仪器示值误差：包括测量误差与仪器系统误差.
   注：测量地点温度变化（20±3）℃； L—被测件长度（mm）
6、仪器之主要尺寸：
   测量台与物镜间之最大距离：80mm，测量工作台直径：120mm